"แหล่งซื้อขายสินค้า B2B ออนไลน์สำหรับธุรกิจ SME ในไทย"

หรือ

ห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และ EDS,EDX

รหัสสินค้า:376645
ราคา: 1,200 บาท
สั่งซื้อขั้นต่ำ: ไม่ระบุ
ข้อมูลสินค้า:
  1. บริการ Failure analysis
  2. บริการจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป
  3. บริการส่อง SEM
  4. บริการ EDS วิเคราะห์ธาตุ
  5. บริการ SEM จุลทรรศน์ไมโครสโคป


กดดูเบอร์โทรผู้ขาย 028323687

dosem

ผู้เข้าชม 3,414 ครั้ง

ข้อมูลสินค้าและเนื้อหาอื่น ๆ ในนี้ถือ เป็นลิขสิทธิ์ของผู้ขาย B2BThai.com เป็นสื่อกลางในการนำเสนอเนื้อหาเท่านั้น

รายละเอียดสินค้า : ห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และ EDS,EDX

คำค้น :

ปี 2556 วันเสาร์-อาทิตย์ช่วงเวลา 08.00-17.00น. คิดค่าบริการเท่ากับวันจันทร์-ศุกร์ช่วงเวลาเดียวกัน ลดค่าบริการพิเศษสำหรับ นักศึกษา/ข้าราชการ สูงสุด 30 % ลดค่าบริการพิเศษสำหรับ บริษัท ห้างร้าน เอกชนสูงสุด 10 % Do SEM ลดค่าบริการพิเศษ เดือนมกราคม-มีนาคม 2556 เท่านั้นค่ะ

รับบริการทุกวันตลอด 24 ชั่วโมง ไม่มีวันหยุด ทาง www.dosem24hr.com

รายละเอียดทั่วไปการให้บริการของห้องปฏิบัติการ SEM /EDS /EDX (Do SEM )

 - การถ่ายภาพพื้นผิวชิ้นงานศึกษา ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด SEM  
- ใช้SEM ในการศึกษาสัณฐาน และรายละเอียดลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง  
- ใช้SEM ในการศึกษาลักษณะพื้นผิวด้านนอกของเนื้อเยื่อและเซลล์  
- ใช้SEM ในการศึกษาตัวอย่างด้านชีววิทยา, พยาธิวิทยา, เทคโนโยลีชีวภาพ  
- ใช้SEM ในการศึกษาลักษณะพื้นผิวด้านนอกของหน้าตัดของโลหะและวัสดุต่างๆ  - ใช้SEM ในการศึกษาตัวอย่างร่วมการวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX  
- การใช้ SEM,EDS ตรวจสอบคุณสมบัติของวัสดุ  
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์รอยบกพร่องและคราบสกปรกของวัสดุ  
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์วัสดุที่นำมาเป็นบรรจุภัณฑ์ เช่นกระป่อง กล่อง ฝาจีบ ขวด  
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์เขม่าปืน, คราบเขม่าดินปืน  
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์ความเสียหายและการกัดกร่อนของวัสดุ  
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์วัสดุทางทันต์แพทย์, วัสดุทำฟัน จัดฟัน วิเคราะห์วัสดุทางการแพทย์  
- Failure analysis การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุ ความเสียหายวัสดุอุตสาหกรรม ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- วิเคราะห์ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ IC Transistor Relay Semiconductor เซมิคอนดัคเตอร์ ชิ้นส่วนไฟฟ้าด้วย SEM,EDS  
- ทดสอบวิเคราะห์ชิ้นส่วนยานยนต์ อะไหล่ยานยนต์ ชิ้นส่วนเครื่องจักรกล ชิ้นส่วนงานรถไฟ ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- ทดสอบวิเคราะห์วัสดุก่อสร้าง ปูนซีเมนต์ อิฐมวลเบา อิฐต่างๆ หิน ดิน กรวด แร่ธาตุต่างๆ ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- การวิเคราะห์องค์ประกอบเคมีของสารปนเปื้อนบนชิ้นงาน วัสดุ(contamination) ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- การทดสอบวิเคราะห์ เหล็กหล่อ เหล็กกล้า รางรถไฟ ล้อแมกซ์ ผ้าเบรก ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- การทดสอบวิเคราะห์ตัวอย่างลักษณะเป็นผงต่างๆ ผงแป้งต่างๆ ซิงค์ออกไซต์ Zinc oxide ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- การทดสอบวิเคราะห์ Ceramics เซรามิคส์ เซรามิกส์ ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- การทดสอบวิเคราะห์ polymer พอลิเมอร์ โพลิเมอร์ ยาง พลาสติก เม็ดยาง ยางพารา ยางรถ ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- การทดสอบวิเคราะห์พระหล่อโบราณ พระเครื่อง พระเครื่องผง พระเครื่องเนื้อโลหะต่างๆ วัตถุโบราณ ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- การทดสอบวิเคราะห์สิ่งทอ เส้นใย ผ้า ผ้าไหม ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- การทดสอบวิเคราะห์ถ่ายภาพ PCB ลายปริ้น บอร์ดอิเล็กทรอนิกส์ คอมพิวเตอร์ ไฟเบอร์ Fiber ด้วยเครื่อง SEM,EDS  
- การทดสอบวิเคราะห์ยา เคมีภัณฑ์ ด้วยเครื่อง SEM,EDS

SEM (Scanning Electron Microscope)และ EDS (Energy Dispersive X-ray) ,SemAfore, SPUTTER Coater 

SEM กำลังขยายสูง สามารถดู SEI,BEI,COMPO,TOPO โหมด EDS Full Option พร้อมโปรแกรม SemAfore ดึงภาพดิจิตอล,วัดขนาด และเครื่องฉาบเคลือบทอง Sputter Coater

 
บริการ SEM,EDS,EDX,Sputter Coater ทุกวัน 24 ชั่วโมง www.dosem24hr.com

SEM for Failure AnalysisSEM for sale1

** รายละเอียดไฟล์ PDF. เพิ่มเติมคลิก Jeol Scanning electron microscope JSM 5400.pdf

รายละเอียด :

SEM (Scanning Electron Microscope) JEOL

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด
Scanning electron microscope, SEM

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SCANNING ELECTRON MICROSCOPE,SEM ภาพที่ได้จากเครื่อง SEM 1.ภาพแบบ SEI (Secondary electron image)

SEI Image
SEI Image
Latex SEI Image
Latex SEI Image

2.ภาพแบบ BEI (Backscattered electron image) 2.1 BEI ภาพแบบ COMPO (compositional mode) แยกความแตกต่างตาม atomic number, Z

PbSn BEI COMPO  Image  2
PbSn BEI COMPO Image 2

2.2 BEI ภาพแบบ TOPO (topographic) ภาพแบบมีมิติ,3มิติ

PbSn BEI TOPO  Image 2
PbSn BEI TOPO Image 2

2.3 BEI ภาพแบบ SHADOW (COMPO/TOPO+SHADOW)

PbSn BEI COMPO +Shadows Image  2
PbSn BEI COMPO +Shadows Image 2
PbSn BEI TOPO +Shadows Image  2
PbSn BEI TOPO +Shadows Image 2

SEM Mode ที่บริการ
1.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode) 2.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode) 3.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ 4.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ

* LV SEM หรือ Low vacuum เป็นศัพท์เทคนิคการใช้SEM ในโหมดสุญญากาศต่ำของ SEM ยี่ห้อ JEOL ส่วนศัพท์เทคนิค ของ SEMยี่ห้ออื่นๆจะมีศัพท์เทคนิคเช่น VP SEM, E SEM, EP SEM, N SEM, WET SEM การทำงานของเครื่องSEM จะเหมือนๆกัน สามารถดูตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้าได้ ตัวอย่างมีความชื้นอยู่บ้างไม่มาก และเป็นการไม่ทำลายตัวอย่าง

- Filament แบบทังสเตน (W) K-Type

- กำลังขยาย X15 - X200,000 เท่า

- SEI Image resolution 3.5 nm.

- BEI Image resolution 4.5 nm. TOPO Mode, COMPO Mode,

- High Vacuum mode

- Low Vacuum mode (BEI)ไม่ต้อง coating ตัวอย่างก่อนเข้า SEM

EDS (Energy Dispersive X-Ray) OXFORD

- Detector Resolution 133 ev.

- วิเคราะห์ได้ตั้งแต่ B(โบรอน) - U(ยูเรเนียม)

- Detection limit 0.1 % สามารถวิเคราะห์ %ธาตุได้ตังแต่ 0.1%ขึ้นไป

- วิเคราะห์เชิงคุณภาพ Qualitative

- วิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative

- Mapping และ Line scan แบบ Speed map

- Quant Mapping และQuant Line scan แบบ Quant

- Phase measurement

- Area Measurement

- Cameo

- Beam Track

- Auto Beam

EDS Services วิเคราะห์ะธาตุ เชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ (Qualitative and Quantitative analysis) ตั้งแต่ธาตุ Bโบรอน- U ยูเรเนียม, Detection limit 0.1%

การวิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative การวิเคราะเชิงปริมาณ Quantitative Analysis หาปริมาณ%ธาตุในตัวอย่าง, Element% ,Atomic%

sem quant
sem quant หาปริมาณ element%, atomic %
sem quant 1sp
Qualitative analysis
sem quant
sem quant , Quantitative analysis
sem quant , Quantitative analysis
sem quant , Quantitative analysis
sem quant
sem quant , Quantitative analysis แบบกราฟแท่ง
sem quant 5
sem quant , Quantitative analysis

การวิเคราะเชิงคุณภาพ Qualitative Analysis สามารถวิเคราะห์ได้ตั้งแต่ธาตุ B ถึง U ตามตารางธาตุ Resolution 133 ev.

Identify EDS peak
Identify EDS peak
spectrum copy
X-ray spectrum copy
spectrum printing
spectrum printing
EDX X-ray spectrum
EDS X-ray spectrum, Qualitative analysis
spectrum zoom
spectrum zooming

วิเคราะห์แบบ Mapping ธรรมดา(Speed mapping)

วิเคราะห์แบบ Mapping (Speed maping) Speed maping ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง

Mix Mapping

speed mapping
speed mapping

Speed mapping

speed map 2
speed map 2

Mix Mapping

speed mapping
speed mapping

การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed Linescan)

การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed linescan) Speed linescan ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง

linescan mix
linescan mix รวม Linescan กับภาพ

Mix Linescan

linescan mix
linescan mix , Element mix
linescan mix
linescan mix 2 element with Autobeam image
linescan mix4
linescan mix, Line บนภาพ Autobeam

Speed Linescan

linescan1
ลากเส้นกำหนดตำแหน่งทำ linescan

Speed Linescan

linescan 4 ธาตุ
Speed line scan แกน Yจะบอกเป็น cts.(ไม่เหมือนQuant linescan บอกเป็น %element.)

Quant Mapping ใช้เวลาทำ 4-6 ชม. /ตำแหน่ง

* Mapping แบบ Speed map ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง

** ติดต่อเจ้าหน้าที่ขอรายละเอียดเพิ่มเติมกรณีทำ Quant Mapping ค๊ะ

Quant mapping 1
Quant mapping 1
Quant mapping2
Quant mapping ระดับสีจะบอกถึง %element

Quant Line Scan

Quant Line Scan

 

Quant line scan 1
Quant line scan 1
Quant line scan 2
Quant line scan แกน Yจะบอกเป็น %element (ไม่เหมือนSpeed บอกเป็น cts.)

Quant Line Scan แบบ Mix

Quant line scan mix1
Quant line scan mix1
Quant line scan mix2
Quant line scan mix2

รูป Auto Beam แบบ 1 Point และ Area analysis

auto beam1
auto beam แบบ Area
auto beam
auto beam แบบ Area 2

Auto Beam แบบกำหนดจุด 1 จุด

point analysis
point analysis / Autobeam 1 point

Muti point Analysis

Muti point Analysis (เชิงปริมาณ)

Auto beam track
Auto beam track, multi point, 6 point
Auto beam track7 results
Auto beam track results เชิงปริมาณ
sem quant
sem quant เชิงปริมาณ, %element

Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)

Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)

Auto beam track1

X-Ray analysis
X-Ray analysis1
Auto beam track3
Auto beam track spectrum 6 point

Muti point Analysis (เชิงปริมาณแบบหาค่าเฉลี่ย จากทุกจุดที่ยิง)

Auto beam track6 aver
Auto beam track แบบหาค่าเฉลี่ย 6 จุด

Area Measurement

area measurement
area measurement วัดหาพื้นที่ของภาพออกมาเป็น %

CAMEO Analysis

CAMEO Analysis
CAMEO Analysis ,สีแดงย่าน kev ต่ำ ส่วนสีฟ้า kevสูง
cameo
cameo

Phase Measurement

Phase Measurement
Phase Measurement วัดเพสของตัวอย่างออกมาเป็น %

SemAfore Ver 5.0 JEOL

- ดึงภาพดิจิตอลไฟล์จากเครื่อง SEM เป็นไฟล์ .BMP, JPEG, PNG, TIFF และอื่นๆได้

- สามารถวัดขนาดตัวอย่างได้

- สามารถวัดพื้นที่ตัวอย่างได้

- สามารถวัดมุมตัวอย่างได้

- สามารถใส่Text บนตัวอย่างได้

- สามารถนับจำนวนตัวอย่างได้

SPUTTER COATER Fison VG Microtech

- สำหรับฉาบเคลือบทองบนผิวตัวอย่าง เพื่อให้นำไฟฟ้า ก่อนเข้าเครื่อง SEM ใช้อาร์กอนช่วยในการฉาบเฉลือบให้สมบูรณ์ยิ่งขึ้น

- สามารถลดความชื้นตัวอย่างที่มีความชื้นสูง ก่อนนำเข้า SEMได้

 

 

สนใจสอบถามรายละเอียดเพิ่มเติม

www.dosem24hr.com

บริการ SEM,EDS,EDX,Sputter Coater ทุกวัน 24 ชั่วโมง www.dosem24hr.com

 

รับบริการทุกวันตลอด 24 ชั่วโมง ไม่มีวันหยุด ทาง www.dosem24hr.com

 

ปี 2556 วันเสาร์-อาทิตย์ช่วงเวลา 08.00-17.00น. คิดค่าบริการเท่ากับวันจันทร์-ศุกร์ช่วงเวลาเดียวกัน ลดค่าบริการพิเศษสำหรับ นักศึกษา/ข้าราชการ สูงสุด 30 % ลดค่าบริการพิเศษสำหรับ บริษัท ห้างร้าน เอกชนสูงสุด 10 % Do SEM ลดค่าบริการพิเศษ เดือนมกราคม-มีนาคม 2556 เท่านั้นค่ะ

ข้อมูลช่องทางการชำระค่าบริการ

ไม่ระบุ

การจัดส่ง

ไม่ระบุ

ส่งข้อความติดต่อ

ถึง :

Do SEM บริการจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ

จาก :
อีเมล์ของคุณ :
โทรศัพท์ :